基于概念瓶颈实现可解释与可控的分子图生成

研究人员提出将概念瓶颈（concept bottlenecks）引入深度图生成模型（DGG），使用户能够对分子图生成过程进行解释、调试与定向控制。在单次分子图生成框架测试中，该方法持续提升了分布保真度并降低 FCD，对分子的有效性与唯一性仅产生微弱影响。研究还进一步探索了基于优化的 Concept Controller 控制方法，相关机制亦可迁移至序列图生成。